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Caracterización de nanoestructuras semiconductoras por la técnica de fotorreflectancia

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dc.contributor.author Sánchez Juárez, Jonathan Rubén
dc.date.accessioned 2012-08-17T21:12:20Z
dc.date.available 2012-08-17T21:12:20Z
dc.date.created 2012-06
dc.date.issued 2012-08-17T21:12:20Z
dc.identifier.uri http://tesis.ipn.mx:8080/xmlui/handle/123456789/10535
dc.language.iso es es
dc.title Caracterización de nanoestructuras semiconductoras por la técnica de fotorreflectancia es
dc.type Thesis es


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