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http://tesis.ipn.mx/handle/123456789/29669
Title: | Caracterización electro-óptica de celdas solares de película delgada con estructura de sustrato y de superestrato |
Authors: | Valencia Resendiz, Enrique Seuret Jiménez, Diego Vigil Galán, Osvaldo |
Keywords: | Celdas solares HJDM CdS |
Issue Date: | 8-Nov-2021 |
Citation: | Valencia Resendiz, Enrique. (2017). Caracterización electro-óptica de celdas solares de película delgada con estructura de sustrato y de superestrato (Maestría en Ciencias Fisicomatemáticas). Instituto Politécnico Nacional, Sección de Estudios de Posgrado e Investigación, Escuela Superior de Física y Matemáticas, México. |
Abstract: | RESUMEN: La caracterización electro-óptica de celdas solares a películas delgadas es un tema fundamental, debido a que permite conocer los parámetros y mecanismos que determinan la eficiencia de dichos dispositivos. Una de las principales caracterizaciones de las celdas solares es la característica corriente-voltaje (I-V), a partir de la cual pueden determinarse los parámetros eléctricos fundamentales: factor ideal del diodo (n), corriente de saturación inversa (J0), voltaje a circuito abierto (Voc), corriente de corto circuito (Jsc), factor de forma (FF) y las resistencias en serie Rs y en paralelo Rsh. Mecanismos como el transporte de carga que predomine en el dispositivo, la influencia de la resistencia de contactos en el valor de la resistencia en serie, el conocido déficit del Voc, son entre otras, la información que puede recabarse a partir de la característica corriente-voltaje. ABSTRACT: The electro-optical characterization of solar cells to thin films is a fundamental issue, because it allows to know the parameters and mechanisms that determine the efficiency of these devices. One of the main characterizations of solar cells is the current-voltage (IV) characteristic, from which the fundamental electrical parameters can be determined: ideal diode factor (n), inverse saturation current (J0), circuit voltage Open (Voc), short circuit current (Jsc), form factor (FF) and the resistors in series Rs and in parallel Rsh. Mechanisms such as the load transport that prevails in the device, the influence of contact resistance on the value of the resistance in series, the well-known Voc deficiency are, among others, the information that can be obtained from the current- voltage. |
Description: | Tesis (Maestría en Ciencias Fisicomatemáticas), Instituto Politécnico Nacional, SEPI, ESFM, 2017, 1 archivo PDF, (56 páginas). tesis.ipn.mx |
URI: | http://tesis.ipn.mx/handle/123456789/29669 |
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